Описание:

Leica EM BAF060 – система для крио-травления/крио-разлома. Самая современная система подготовки образца по технологии охлажденное травление/разлом имеет активную систему подачи хладагента для постоянной подготовки образца без температурных флуктуаций.

Методы: крио-травление/разлом, двойной реплики (зеркальный разлом), крио-сушка, покрытие углерод/металл для анализа ПЭМ и СЭМ, двуслойное покрытие образцов для крио-СЭМ анализа.

• Отличные условия создания высокого вакуума  предотвращает образец от контаминации и позволяет сублимацию на низких температурах.
• Эргономичный дизайн и безопасность в работе.
• Стереомикроскоп с высокими оптическими характеристиками.
• Функция автоматического отключения системы охлаждения.
• Светодиодное освещение для наблюдения процесса подготовки образца.
• Возможность подключения крио-системы переноса Leica VCT 100 для крио-СЭМ анализа.